Taramalı tünelleme mikroskobunun (Scanning tunneling microscope – STM ) keşfiyle birlikte iletken yüzeyler atomik seviyede incelenebilmiş, çekirdek çevresindeki elektronların üç boyutlu haritası çıkartılabilmiştir. Bunun nanobilim için büyük bir buluş olmasının sebebi, daha önceki mikroskoplarla (elektron mikroskobuyla bile) tek bir atoma odaklanıp onu oluşturan çekirdek ve elektronlara dair bir resim elde edebilmenin mümkün olmamasıdır.

Yukarıdaki resimde bir taramalı tünelleme mikroskobu modeli görülüyor.
Atomik kuvvet mikroskobu (Atomik force microscope – AFM) da taramalı tünelleme mikroskobu gibi yüzeylerin atomik özelliklerini incelemeyi sağlar ancak diğer mikroskobun yapamadığı bir şeyi daha yapar; iletken olmayan yüzeyleri inceleme imkanını da sunar. İki mikroskop da birbirinden çok farklı tekniklerle yüzeydeki atomlar hakkında bilgi sağlarken AFM’nin görüntü kalitesi STM’ye göre daha düşüktür.








Hybrid-Şeklinde